面對高速鏈路測試重重挑戰,輕松實現PCIe 5自動多路測試


原標題:面對高速鏈路測試重重挑戰,輕松實現PCIe 5自動多路測試
面對高速鏈路測試的挑戰,特別是PCIe 5(即PCI Express第五代,數據傳輸速率可達32 GT/s)的自動多路測試,確實需要一系列精細的操作和配置。以下是一些關鍵步驟和考慮因素,以實現PCIe 5的自動多路測試:
一、測試挑戰
多通路測試需求:PCI Express端口的通路寬度一般為x1、x4、x8和x16,需要對這些不同寬度的通路進行發射機(Tx)和接收機(Rx)的測量,這給全自動測試環境帶來了挑戰。
高速信號要求:PCIe 5的數據傳輸速率高達32 GT/s,對測試設備和測試方法提出了更高要求。
二、測試方法
1. 使用RF開關
目的:通過在測試通道中包括RF開關,可以在不過度改變被測設備(DUT)和測試設備電纜的情況下實現多路測試。
配置:
推薦使用Mini-Circuits的RF開關進行Gen5多路測試,這些開關型號如ZTM2-8SP6T-40和ZT-8SP6T-40 4U/5U等,可以支持最多18條通路(PCIe最高一般是x16),也支持較低的通路數。
推薦使用相位匹配的電纜,在相鄰的40 GHz繼電器之間建立固定連接,以保持電氣路徑的一致性。
2. 測試設備連接
發射機(Tx)測試:
系統主機配置要求把一塊一致性測試負載電路板(CLB)插入DUT的CEM連接器中。
使用電纜從每條通路連接RF開關,然后將端接的開關矩陣連接到50 GHz示波器。
任意波形發生器(AFG)可以自動生成要求的突發信號,令DUT循環通過不同發射機測量使用的各種數據速率和碼型。
接收機(Rx)測試:
PCIe Gen5器件接收機使用精細校準的壓力眼圖信號進行測試。
在TP3測試點校準幅度、Tx均衡、隨機抖動和正弦曲線抖動時,需要直接連接BERT(如Anritsu MP1900A BERT PPG)和示波器。
在TP2P使用差模干擾(DMI)、共模干擾(CMI)和最后的壓力眼圖校準串擾項。
3. 電纜和連接器選擇
電纜長度:建議在DUT和RF開關之間使用1米2.92mm電纜,在RF開關和示波器輸入之間使用0.5米2.92mm電纜。
匹配范圍:通道中所有電纜、繼電器和PCB匹配范圍都應落在正負信號路徑+/- 1ps范圍內。
4. 損耗校正
通道損耗:應執行測試夾具表征,包括RF開關。可以選擇一個損耗較低的濾波器文件,以實現最壞情況插件損耗或系統損耗。
反嵌技術:可以使用基于散射參數(S參數)的反嵌技術去掉RF開關插損的影響,但需要注意噪聲放大的影響。
三、注意事項
避免串聯多個繼電器:由于插損問題,不建議串聯兩個以上的繼電器進行32 GT/s Tx測試。
保持電氣路徑一致性:使用相位匹配的電纜,以確保通道到通道間只存在小的電氣差異。
軟件支持:利用TekExpress等軟件執行自動通道到通道時延校正,提高測試效率。
四、總結
實現PCIe 5的自動多路測試需要精細的測試和配置過程,包括使用RF開關、選擇合適的測試設備和電纜、執行損耗校正等。通過這些步驟,可以確保在不過度改變測試環境的情況下,全面表征高速鏈路的性能。
請注意,以上信息基于當前可用的技術和測試方法,并可能隨著技術的發展而有所變化。在實際應用中,建議參考最新的測試標準和設備手冊。
責任編輯:David
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