原標題：毫米波AiP系統的快速測試解決方案

毫米波AiP（封裝天線集成）系統的快速測試解決方案主要關注于如何高效、準確地評估這類系統的性能。以下是針對毫米波AiP系統快速測試解決方案的詳細分析：

1. 測試方法

• OTA（Over-the-Air）測試：由于AiP系統是一個單一的緊湊型封裝，包含多個射頻通道且沒有天線單元上的射頻連接器，因此OTA測試是唯一可行的方法。OTA測試可以評估AiP的輻射圖、各單元的相對增益和相位等關鍵參數。

2. 測試環境

• 遠場測量：根據3GPP TR 38.810規范，遠場測量技術需要一個最小測量距離，這通常需要一個較大的暗室。例如，一個天線尺寸為15厘米的28 GHz設備可能需要一個4.2米的暗室來實現遠場測量。

• 緊湊型天線測試（CATR）：使用間接遠場（IFF）方法，通過拋物線反射器將來自饋電喇叭的波平行化，以創造一個遠場的測試環境。雖然縮小了暗室尺寸，但整個系統仍需要較大空間。

3. 快速測試解決方案的特點

• 設備兼容性強：系統應能快速兼容并拓展多種型號，適合批量生產、篩選認證以及研發測試場景。

• 環境測試能力：支持低溫、常溫、高溫等多種環境測試，確保在各種工作條件下系統的穩定性。

• 模塊化結構：系統應由多個模塊化組件組成，如Handler、socket、loadboard和測試機等，方便根據需求進行定制和升級。

• 可靠性高：系統應具有低掉料率和低測試工位接觸不良率，確保測試的準確性和重復性。

4. 軟件平臺

• 可視化界面：軟件平臺應具備直觀、易用的顯示及操作界面，使操作更加便捷，信息展示更加及時、全面。

• 自動化控制：自動化控制和測試模塊上位機應采用嵌套平臺化關系，實現多種測試類型的快速切換和多種制式數據的自動化存儲。

5. 解決方案優勢

• 系統兼容性強：能夠融合空口技術，滿足毫米波天線空口測試要求，實現對位置標定、收發功率、平坦度、波束賦形等關鍵參數的測試。

• 高效性：通過模塊化設計和自動化控制，顯著提高測試效率，減少測試時間和成本。

6. 相關設備和儀表

• 平移式分選測試設備（如ST5203）：適用于分選測試，支持多種工作模式和進料方式，兼容性強。

• 信號提取夾具（如AFX300）：用于射頻信號提取，支持TRL校準，頻率范圍覆蓋DC至50GHz。

• 高速切換單元：實現儀表通道的快速切換，降低測試時間。

• loadboard板：定制化的測試板，用于芯片測試電源控制、信號轉接和電信號測量等。

通過上述快速測試解決方案，可以實現對毫米波AiP系統的高效、準確測試，確保系統的性能和穩定性滿足設計要求。