什么是數(shù)控衰減器芯片,數(shù)控衰減器芯片的基礎(chǔ)知識?


在現(xiàn)代電子系統(tǒng)中,對信號幅度的精確控制是至關(guān)重要的。無論是無線通信、雷達系統(tǒng)、測試測量設(shè)備還是光纖通信,信號的衰減都扮演著不可或缺的角色。在這一背景下,數(shù)控衰減器芯片(Digital Step Attenuator, DSA)應(yīng)運而生,它以其卓越的精度、可編程性和集成度,成為眾多高性能應(yīng)用中的核心組件。數(shù)控衰減器芯片通過數(shù)字信號控制,實現(xiàn)對射頻(RF)或微波信號功率的精確、步進式衰減,極大地提升了系統(tǒng)的靈活性和自動化水平。
一、數(shù)控衰減器芯片概述:從基本概念到重要性
數(shù)控衰減器芯片,顧名思義,是一種其衰減量可以通過數(shù)字信號進行控制的集成電路。它不同于傳統(tǒng)的固定衰減器或手動可調(diào)衰減器,后者衰減量固定或需要人工調(diào)節(jié)。數(shù)控衰減器芯片的核心優(yōu)勢在于其能夠在極短的時間內(nèi)根據(jù)預(yù)設(shè)的數(shù)字代碼改變信號的衰減量,從而實現(xiàn)動態(tài)的功率管理。
在無線通信系統(tǒng)中,為了適應(yīng)不同的傳輸距離、信道條件以及接收機靈敏度,發(fā)射功率和接收信號的動態(tài)范圍管理顯得尤為關(guān)鍵。數(shù)控衰減器芯片能夠精確地調(diào)整信號功率,確保信號在接收端處于最佳的動態(tài)范圍,避免信號過載或淹沒在噪聲中,從而優(yōu)化系統(tǒng)性能。在測試測量領(lǐng)域,數(shù)控衰減器芯片則被廣泛應(yīng)用于構(gòu)建自動測試系統(tǒng),用于模擬各種信號強度,對被測器件進行全面的性能評估。其高精度和可重復(fù)性是手動衰減器無法比擬的。
1.1 衰減與衰減器:基本原理
衰減是指信號在傳輸過程中功率的降低,通常用分貝(dB)表示。衰減器是一種無源或有源器件,用于有意地降低信號的幅度。其基本原理是消耗信號的一部分能量,將其轉(zhuǎn)化為熱能或其他形式的能量,從而減小輸出信號的功率。
對于一個衰減器,其衰減量定義為輸入功率與輸出功率之比的對數(shù)形式:
衰減量 (dB)=10?log10(PoutPin)
其中,Pin 是輸入功率,Pout 是輸出功率。數(shù)控衰減器芯片的目標(biāo)就是通過數(shù)字控制,精確地改變這個Pout,從而實現(xiàn)所需的衰減量。
1.2 數(shù)控衰減器芯片的優(yōu)勢
相較于傳統(tǒng)的衰減器,數(shù)控衰減器芯片具備顯著的優(yōu)勢:
高精度與高分辨率: 能夠提供精細的衰減步長,例如0.25dB、0.5dB或1dB,從而實現(xiàn)對信號功率的精確控制。
可編程性與自動化: 通過數(shù)字接口(如SPI、I2C或并行接口),可以方便地集成到各種數(shù)字控制系統(tǒng)中,實現(xiàn)自動化調(diào)節(jié),無需人工干預(yù)。這對于復(fù)雜的通信系統(tǒng)和自動化測試環(huán)境至關(guān)重要。
快速切換速度: 衰減量的切換速度快,通常在微秒甚至納秒級別,能夠滿足跳頻、TDMA等高速系統(tǒng)對動態(tài)功率調(diào)節(jié)的需求。
尺寸與集成度: 作為集成電路,其尺寸遠小于分立元件構(gòu)成的衰減器,有利于系統(tǒng)的小型化和集成化。多位衰減器可以集成在一個芯片上,減少了板級空間和布線復(fù)雜性。
重復(fù)性與穩(wěn)定性: 數(shù)字控制確保了每次衰減量設(shè)定的重復(fù)性和穩(wěn)定性,不易受環(huán)境溫度、濕度等因素的影響,保證了系統(tǒng)性能的一致性。
寬頻率范圍: 現(xiàn)代數(shù)控衰減器芯片能夠覆蓋從直流到毫米波的寬廣頻率范圍,適應(yīng)多種應(yīng)用場景。
二、數(shù)控衰減器芯片的分類與關(guān)鍵技術(shù)
數(shù)控衰減器芯片根據(jù)其內(nèi)部實現(xiàn)技術(shù)和特性可以進行多種分類,每種技術(shù)都有其獨特的優(yōu)勢和適用場景。
2.1 根據(jù)半導(dǎo)體工藝分類
數(shù)控衰減器芯片的性能在很大程度上取決于所采用的半導(dǎo)體工藝。常見的工藝包括:
GaAs (砷化鎵): GaAs工藝在射頻和微波領(lǐng)域有著悠久的歷史和成熟的應(yīng)用。GaAs數(shù)控衰減器芯片具有低插入損耗、高隔離度、寬帶寬和高線性度等優(yōu)點,尤其適用于高頻和大功率應(yīng)用。其缺點是成本相對較高,且不適用于低功耗數(shù)字電路的集成。
SiGe (硅鍺): SiGe工藝結(jié)合了硅的低成本和鍺的高速特性,提供了一種高性能且相對經(jīng)濟的解決方案。SiGe數(shù)控衰減器芯片在頻率、功耗和集成度之間取得了很好的平衡,在中低頻段和中等功率應(yīng)用中表現(xiàn)出色。
CMOS (互補金屬氧化物半導(dǎo)體): 隨著CMOS工藝在頻率和性能上的不斷進步,越來越多的數(shù)控衰減器芯片開始采用CMOS技術(shù)。CMOS數(shù)控衰減器芯片的優(yōu)勢在于極低的成本、高集成度以及與數(shù)字電路的良好兼容性,能夠?qū)⑺p器、控制邏輯甚至處理器集成在同一芯片上,實現(xiàn)片上系統(tǒng)(SoC)解決方案。然而,在極高頻率和高功率應(yīng)用中,其性能可能不如GaAs或SiGe。
SOI (絕緣體上硅): SOI工藝提供了一種高性能的硅基解決方案,通過在襯底上構(gòu)建絕緣層,有效降低了寄生電容和襯底損耗,從而提升了射頻性能。SOI數(shù)控衰減器芯片在低插入損耗、高線性度和高功率處理能力方面表現(xiàn)優(yōu)異,同時具備CMOS的集成優(yōu)勢。它在5G通信和高性能RF前端中越來越受歡迎。
2.2 根據(jù)衰減實現(xiàn)方式分類
數(shù)控衰減器芯片實現(xiàn)衰減的方式主要有兩種:
反射式衰減器 (Reflective Attenuator): 利用PIN二極管或FET(場效應(yīng)晶體管)作為開關(guān),通過改變其偏置電壓來改變其等效電阻或阻抗,從而實現(xiàn)信號的反射或傳輸。反射式衰減器通常需要一個耦合器或環(huán)形器將反射信號導(dǎo)向輸出端口,其優(yōu)點是衰減范圍大,但缺點是輸入/輸出匹配在不同衰減量下可能會發(fā)生變化,導(dǎo)致回波損耗變差。
吸收式衰減器 (Absorptive Attenuator): 這種衰減器通過將信號能量轉(zhuǎn)化為熱能來吸收多余的功率。通常通過改變PIN二極管或FET的串聯(lián)和并聯(lián)狀態(tài)來改變信號路徑的電阻,從而實現(xiàn)功率的吸收。吸收式衰減器在所有衰減狀態(tài)下都能保持良好的輸入/輸出匹配,因此回波損耗性能較好,但插入損耗可能略高于反射式。大多數(shù)高性能數(shù)控衰減器芯片采用吸收式結(jié)構(gòu)。
2.3 核心實現(xiàn)技術(shù):T型和π型衰減單元
無論采用何種半導(dǎo)體工藝或衰減實現(xiàn)方式,數(shù)控衰減器芯片內(nèi)部通常由一系列基本衰減單元級聯(lián)而成,每個衰減單元提供一個特定的衰減量,通過數(shù)字開關(guān)控制這些單元的旁路或激活。最常見的衰減單元結(jié)構(gòu)是T型和π型:
T型衰減單元: 由兩個串聯(lián)電阻和一個并聯(lián)電阻構(gòu)成T形。通過開關(guān)切換不同的電阻組合,可以實現(xiàn)不同的衰減量。這種結(jié)構(gòu)在寬帶范圍內(nèi)具有良好的匹配特性。
π型衰減單元: 由一個串聯(lián)電阻和兩個并聯(lián)電阻構(gòu)成π形。與T型類似,通過開關(guān)控制電阻的組合實現(xiàn)衰減。π型衰減器通常在較低頻率下具有較好的性能。
在實際的數(shù)控衰減器芯片中,這些T型或π型衰減單元會根據(jù)數(shù)字控制位進行組合。例如,一個6位數(shù)控衰減器芯片可能包含6個獨立的衰減單元,分別提供1dB、2dB、4dB、8dB、16dB和32dB的衰減,通過數(shù)字控制字可以選擇性地激活這些單元,從而實現(xiàn)0到63dB之間以1dB步進的任意衰減量。這種二進制加權(quán)(Binary-Weighted)結(jié)構(gòu)是實現(xiàn)高精度和寬衰減范圍的關(guān)鍵。
三、數(shù)控衰減器芯片的關(guān)鍵性能參數(shù)
選擇和評估數(shù)控衰減器芯片時,需要關(guān)注一系列關(guān)鍵性能參數(shù),它們直接決定了芯片在特定應(yīng)用中的適用性。
3.1 衰減范圍與步長 (Attenuation Range & Step Size)
衰減范圍: 指芯片能夠提供的最大和最小衰減量。例如,一個衰減范圍為0到31dB的芯片,意味著它可以將信號衰減0dB(即不衰減)到31dB。衰減范圍越大,系統(tǒng)動態(tài)控制能力越強。
步長: 指衰減量每次改變的最小增量。常見的步長有0.25dB、0.5dB和1dB。步長越小,衰減量的控制精度越高。高精度應(yīng)用,如自動增益控制(AGC)環(huán)路,可能需要0.25dB的步長。
3.2 插入損耗 (Insertion Loss, IL)
插入損耗是指當(dāng)衰減器設(shè)置為最小衰減量(通常為0dB或旁路狀態(tài))時,信號通過芯片所產(chǎn)生的固有損耗。理想情況下,0dB衰減時應(yīng)無損耗,但實際芯片由于內(nèi)部電阻、開關(guān)損耗和寄生效應(yīng),總會存在一定的插入損耗。插入損耗越低越好,因為它會降低系統(tǒng)信噪比和傳輸效率。低插入損耗對于長鏈路或低功耗系統(tǒng)尤為重要。
3.3 回波損耗 (Return Loss, RL) 與電壓駐波比 (VSWR)
回波損耗衡量了信號在芯片輸入/輸出端口的匹配程度。高回波損耗(通常以負dB值表示,如-20dB)意味著大部分信號進入芯片而不是被反射回去,表示良好的阻抗匹配。電壓駐波比(VSWR)與回波損耗密切相關(guān),是衡量阻抗匹配的另一個指標(biāo)。理想的VSWR為1:1,實際中越接近1越好。良好的回波損耗和VSWR可以減少信號反射,提高功率傳輸效率,并避免對其他電路產(chǎn)生不利影響。對于寬帶應(yīng)用,需要在整個工作頻率和所有衰減狀態(tài)下保持良好的回波損耗。
3.4 線性度 (Linearity):IP3與P1dB
線性度是衡量衰減器在處理大信號時,其輸出信號與輸入信號之間線性關(guān)系保持程度的指標(biāo)。非線性會導(dǎo)致信號失真和產(chǎn)生不需要的諧波與互調(diào)產(chǎn)物,對通信系統(tǒng)性能影響巨大。
IP3 (三階截點): 三階截點是評估非線性的一個重要指標(biāo),它表示當(dāng)兩個輸入信號在頻率上接近時,產(chǎn)生的第三階互調(diào)產(chǎn)物強度等于基波信號強度的理論輸入功率點。IP3值越高,表明衰減器的線性度越好,對大信號的失真越小。
P1dB (1dB壓縮點): 1dB壓縮點是指輸入功率增加到某個點時,輸出功率相對于理想線性輸出下降1dB的輸入功率值。P1dB表示衰減器開始出現(xiàn)飽和效應(yīng),輸出功率不再隨輸入功率線性增長的轉(zhuǎn)折點。P1dB值越高,表明衰減器能夠處理的輸入功率越大,而不會產(chǎn)生顯著的非線性失真。
3.5 切換速度 (Switching Speed)
切換速度是指數(shù)控衰減器從一個衰減狀態(tài)切換到另一個衰減狀態(tài)所需的時間。這對于需要快速動態(tài)功率調(diào)整的應(yīng)用(如TDD、跳頻系統(tǒng))至關(guān)重要。切換速度通常以微秒(μs)或納秒(ns)為單位。
3.6 功率處理能力 (Power Handling Capability)
功率處理能力是指芯片在不發(fā)生永久性損壞或性能下降的情況下,能夠承受的最大輸入功率。這包括連續(xù)波(CW)功率和峰值脈沖功率。在高功率發(fā)射機鏈路中,衰減器需要具備足夠的功率處理能力。
3.7 頻率范圍 (Frequency Range)
指芯片能夠正常工作的頻率范圍。現(xiàn)代數(shù)控衰減器芯片可以覆蓋從直流(DC)到數(shù)十GHz甚至上百GHz的超寬頻帶,以適應(yīng)不同的射頻和微波應(yīng)用。
3.8 功耗 (Power Consumption)
指芯片在工作狀態(tài)下所需的電能。對于電池供電或低功耗應(yīng)用,功耗是一個重要的考慮因素。
3.9 控制接口 (Control Interface)
數(shù)控衰減器芯片通常采用數(shù)字控制接口。最常見的有:
串行外設(shè)接口 (SPI): 一種同步串行數(shù)據(jù)傳輸標(biāo)準(zhǔn),只需要少量引腳即可實現(xiàn)控制,適用于對引腳數(shù)量要求嚴格的場合。
I2C (Inter-Integrated Circuit): 另一種常用的串行接口,通常比SPI需要更少的引腳,但速度略慢。
并行接口: 提供最快的控制速度,但需要較多的引腳,適用于對速度要求極高的應(yīng)用。
四、數(shù)控衰減器芯片的應(yīng)用場景
數(shù)控衰減器芯片憑借其卓越的性能和靈活性,在多個領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。
4.1 無線通信系統(tǒng)
基站與無線接入點 (Base Stations & Access Points): 在蜂窩基站中,數(shù)控衰減器用于控制發(fā)射鏈路的功率輸出,以適應(yīng)不同的蜂窩小區(qū)大小和用戶距離。在接收鏈路中,它們用于調(diào)整接收信號的強度,以確保ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)在最佳動態(tài)范圍工作,避免過載或欠載。這對于實現(xiàn)高效的功率控制和減少干擾至關(guān)重要。
射頻前端模塊 (RF Front-end Modules, FEM): 在智能手機、平板電腦和其他移動設(shè)備中,射頻前端模塊集成了多個射頻功能,數(shù)控衰減器用于動態(tài)調(diào)整接收鏈路的增益,以適應(yīng)不同的信號強度和優(yōu)化電池壽命。
微波回程鏈路 (Microwave Backhaul Links): 用于調(diào)節(jié)點對點微波通信鏈路的功率,以補償路徑損耗變化,確保鏈路的穩(wěn)定性和可靠性。
衛(wèi)星通信 (Satellite Communications): 在地球站和衛(wèi)星轉(zhuǎn)發(fā)器中,用于精確控制信號功率,以適應(yīng)不同的傳輸距離和大氣衰減。
4.2 雷達與電子戰(zhàn)系統(tǒng)
相控陣雷達 (Phased Array Radar): 在相控陣雷達中,每個陣元可能都需要一個獨立的數(shù)控衰減器來精確控制其發(fā)射和接收信號的幅度,從而實現(xiàn)波束賦形(Beamforming)和旁瓣抑制(Sidelobe Suppression),提高雷達的探測和抗干擾能力。
電子對抗 (Electronic Warfare, EW): 在電子戰(zhàn)系統(tǒng)中,數(shù)控衰減器用于模擬各種雷達或通信信號的強度,或者在干擾機中精確控制干擾信號的功率,以達到欺騙或壓制敵方系統(tǒng)的目的。
脈沖整形 (Pulse Shaping): 在雷達和脈沖通信系統(tǒng)中,用于對發(fā)射脈沖進行精確的幅度整形,以滿足特定的頻譜要求或提高探測分辨率。
4.3 測試與測量設(shè)備
自動測試設(shè)備 (Automated Test Equipment, ATE): 在生產(chǎn)線和實驗室中,ATE廣泛使用數(shù)控衰減器來模擬不同的信號條件,對RF/微波器件、模塊和系統(tǒng)進行自動化測試和校準(zhǔn)。例如,測試接收機的靈敏度、飽和點以及動態(tài)范圍。
信號發(fā)生器 (Signal Generators): 高級信號發(fā)生器內(nèi)部會集成數(shù)控衰減器,以提供精確可調(diào)的輸出功率,滿足各種測試需求。
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (Vector Network Analyzers, VNA): 在VNA中,數(shù)控衰減器可以用于控制測試信號的功率水平,以防止被測器件過載或在低功率下進行高靈敏度測量。
4.4 光纖通信
光傳輸系統(tǒng) (Optical Transmission Systems): 在光纖通信系統(tǒng)中,雖然信號載體是光波,但許多光模塊內(nèi)部的光電轉(zhuǎn)換和電光轉(zhuǎn)換部分仍然需要處理射頻或微波電信號。數(shù)控衰減器可能用于控制激光驅(qū)動器或光接收機的輸入電信號幅度。
可調(diào)光衰減器驅(qū)動 (Tunable Optical Attenuator Driver): 雖然不是直接的光衰減器,但數(shù)控衰減器芯片可以作為控制電路,用于精確驅(qū)動和調(diào)節(jié)外部的可調(diào)光衰減器,以實現(xiàn)光信號功率的動態(tài)管理。
4.5 其他應(yīng)用
醫(yī)療設(shè)備: 在某些射頻醫(yī)療設(shè)備中,用于精確控制能量輸出。
科學(xué)研究: 在各種射頻/微波實驗中,用于構(gòu)建可控的實驗環(huán)境。
消費電子: 部分高端消費電子產(chǎn)品,如高性能路由器、智能家居設(shè)備中的RF模塊,也可能集成數(shù)控衰減器以優(yōu)化無線連接性能。
五、數(shù)控衰減器芯片的設(shè)計挑戰(zhàn)與未來趨勢
數(shù)控衰減器芯片的設(shè)計面臨著多方面的挑戰(zhàn),同時也伴隨著不斷演進的技術(shù)趨勢。
5.1 設(shè)計挑戰(zhàn)
寬帶性能: 隨著5G、6G等新一代通信技術(shù)的發(fā)展,對寬帶數(shù)控衰減器的需求越來越迫切。在極寬的頻率范圍內(nèi)保持平坦的衰減響應(yīng)和良好的匹配特性是一個巨大的挑戰(zhàn)。衰減器內(nèi)部的寄生電容和電感會隨頻率變化,影響性能。
高線性度與高功率處理: 對于高階調(diào)制和高功率應(yīng)用,要求衰減器在處理大信號時仍能保持極低的失真,同時能夠承受更高的輸入功率而不受損。這需要在半導(dǎo)體工藝和電路設(shè)計上進行優(yōu)化。
低插入損耗: 尤其是在接收鏈路中,低插入損耗對于提高系統(tǒng)靈敏度和信噪比至關(guān)重要。降低插入損耗通常意味著更大的芯片面積或更昂貴的工藝。
高衰減精度與分辨率: 實現(xiàn)0.25dB甚至更小的衰減步長,同時保持在整個衰減范圍內(nèi)的精度,對開關(guān)網(wǎng)絡(luò)的精細設(shè)計和電阻值的精確控制提出了高要求。
溫度穩(wěn)定性: 衰減量和相關(guān)參數(shù)應(yīng)在寬溫度范圍內(nèi)保持穩(wěn)定,以確保系統(tǒng)在各種環(huán)境條件下都能可靠工作。
小尺寸與高集成度: 隨著系統(tǒng)小型化趨勢,要求數(shù)控衰減器芯片在提供高性能的同時,盡可能減小尺寸,并可能集成更多功能,如驅(qū)動器、溫度補償電路等。
低成本: 在大規(guī)模生產(chǎn)的消費電子和通信市場中,成本是關(guān)鍵因素。如何在保證性能的同時降低成本是設(shè)計者需要平衡的重點。
5.2 未來趨勢
更高頻率與毫米波應(yīng)用: 隨著5G毫米波(mmWave)和未來6G技術(shù)的部署,數(shù)控衰減器芯片將向更高的頻率發(fā)展,要求在毫米波段保持優(yōu)異的性能。這將推動更先進的半導(dǎo)體工藝如SiGe BiCMOS、SOI和甚至InP(磷化銦)在衰減器設(shè)計中的應(yīng)用。
更寬的帶寬: 滿足多頻段、多模式系統(tǒng)的需求,衰減器需要在更寬的頻率范圍內(nèi)工作。
更高集成度與多功能化: 將衰減器與其他射頻功能(如LNA、混頻器、PA驅(qū)動器、移相器等)集成到單個芯片上,形成高度集成的射頻前端解決方案(RFIC)。
更低的功耗: 對于移動設(shè)備和IoT應(yīng)用,低功耗是永恒的追求,將推動更低功耗的CMOS/SOI工藝和電源管理技術(shù)在衰減器芯片中的應(yīng)用。
更快的切換速度: 滿足超低延遲通信系統(tǒng)、高速跳頻和更復(fù)雜的波形調(diào)制需求。
智能與自適應(yīng)能力: 結(jié)合片上溫度傳感器和校準(zhǔn)電路,實現(xiàn)衰減量的溫度補償和自校準(zhǔn),提高系統(tǒng)在各種工作條件下的魯棒性。未來還可能集成機器學(xué)習(xí)算法,實現(xiàn)對環(huán)境變化的自適應(yīng)衰減調(diào)節(jié)。
GaN基衰減器: 隨著GaN(氮化鎵)技術(shù)在射頻功率器件領(lǐng)域的成熟,未來可能會出現(xiàn)基于GaN的超高功率處理能力數(shù)控衰減器芯片,適用于高功率雷達和電子戰(zhàn)系統(tǒng)。
六、總結(jié)
數(shù)控衰減器芯片是現(xiàn)代射頻與微波系統(tǒng)中不可或缺的關(guān)鍵組件。它通過數(shù)字控制實現(xiàn)對信號功率的精確、步進式衰減,極大地提升了系統(tǒng)的靈活性、自動化水平和性能。從基本的衰減原理到復(fù)雜的半導(dǎo)體工藝選擇,從嚴格的性能參數(shù)到廣泛的應(yīng)用場景,數(shù)控衰減器芯片的每一個方面都體現(xiàn)了射頻集成電路設(shè)計的精妙之處。
隨著無線通信、雷達和測試測量等領(lǐng)域的持續(xù)進步,對數(shù)控衰減器芯片的需求將更加嚴苛,推動其向更高頻率、更寬帶寬、更低功耗、更高線性度以及更高集成度的方向發(fā)展。未來的數(shù)控衰減器芯片將不僅僅是簡單的衰減器件,更是智能射頻前端的重要組成部分,為構(gòu)建更高效、更靈活、更智能的無線世界提供核心支持。理解和掌握數(shù)控衰減器芯片的基礎(chǔ)知識及其關(guān)鍵技術(shù),對于從事射頻/微波系統(tǒng)設(shè)計、研發(fā)和測試的工程師而言,具有極其重要的意義。
責(zé)任編輯:David
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