微控制器因其成本低、性能可靠、體積小等優(yōu)點(diǎn)已經(jīng)在工業(yè)控制與電子信息領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用。隨著微電子產(chǎn)業(yè)和集成電路工藝水平的不斷發(fā)展,基于不同指令集、具有不同特點(diǎn)的微控制器產(chǎn)品層出不窮,具體應(yīng)用場景也對微控制器的外圍數(shù)字資源提出更多樣化的要求,外設(shè)子系統(tǒng)的功能單元越來越多,性能要求也愈加苛刻。因此,如何設(shè)計(jì)出成本低、性能高、功能多樣化、控制簡單且易于擴(kuò)展的外設(shè)子系統(tǒng)成為微控制器設(shè)計(jì)中的核心技術(shù)之一。此外,外設(shè)子系統(tǒng)中集成的功能單元增加也勢必加大驗(yàn)證工作的難度,如何在上市時(shí)間和功能可靠性的壓力下確保這些功能不同卻又互相協(xié)同的單元正確工作成為關(guān)鍵問題。 本文實(shí)現(xiàn)了實(shí)驗(yàn)室某信號(hào)處理器項(xiàng)目在板級系統(tǒng)中使用的微控制器外設(shè)子系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證工作。